Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2117/718
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions |
---|---|
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. RF&MW - Grup de Recerca de sistemes, dispositius i materials de RF i microones |
dc.contributor.author | Lázaro Guillén, Antoni |
dc.contributor.author | Pradell i Cara, Lluís |
dc.date | 1998-11-26 |
dc.identifier.citation | Lazaro, A.; Pradell, L. Extraction of noise parameters of transistor using a spectrum analyser and 50 Θ noise figure measurements only. Electronics Letters, 1998, 34 (24): 2353-2354. ISSN:0013-5194 |
dc.identifier.citation | 0013-5194 |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/718 |
dc.language.iso | eng |
dc.publisher | IEE |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Radiocomunicació i exploració electromagnètica::Circuits de microones, radiofreqüència i ones mil·limètriques |
dc.subject | Microwave transistors |
dc.subject | electric noise measurement |
dc.subject | microwave measurement |
dc.subject | microwave transistors |
dc.subject | spectral analysers |
dc.subject | semiconductor device measurement |
dc.subject | Microones -- Transistors |
dc.title | Extraction of noise parameters of transistor using a spectrum analyser and 50^ noise figure measurements only. |
dc.type | info:eu-repo/semantics/article |
dc.description.abstract | |
dc.description.abstract |