To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/718

Extraction of noise parameters of transistor using a spectrum analyser and 50^ noise figure measurements only.
Lázaro Guillén, Antoni; Pradell i Cara, Lluís
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions; Universitat Politècnica de Catalunya. RF&MW - Grup de Recerca de sistemes, dispositius i materials de RF i microones
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Radiocomunicació i exploració electromagnètica::Circuits de microones, radiofreqüència i ones mil·limètriques
Microwave transistors
electric noise measurement
microwave measurement
microwave transistors
spectral analysers
semiconductor device measurement
Microones -- Transistors
Article
IEE
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Lázaro Guillén, Antoni; Girbau Sala, David; Pradell i Cara, Lluís
Lázaro Guillén, Antoni; Pradell i Cara, Lluís; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel
Girbau Sala, David; Lázaro Guillén, Antoni; Obiols Pérez, Alberto; Martínez, Ester; Pradell i Cara, Lluís; Villarino Villarino, Ramón
Lázaro Guillén, Antoni; Pradell i Cara, Lluís; Beltrán, A.; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel
Girbau Sala, David; Otegi Urdanpilleta, Nerea; Pradell i Cara, Lluís; Lázaro Guillén, Antoni
 

Coordination

 

Supporters