To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/741

Direct extraction of all four transistor noise parameters from 50 noise figure measurements
Lázaro Guillén, Antoni; Pradell i Cara, Lluís; Beltrán, A.; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions; Universitat Politècnica de Catalunya. RF&MW - Grup de Recerca de sistemes, dispositius i materials de RF i microones
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Radiocomunicació i exploració electromagnètica::Circuits de microones, radiofreqüència i ones mil·limètriques
Microwave transistors Noise
High-electron-mobility transistors
high electron mobility transistors
microwave transistors
semiconductor device noise
semiconductor device models
matrix algebra
equivalent circuits
Transistors de microones
Soroll -- Mesurament
Article
IEE
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Lázaro Guillén, Antoni; Pradell i Cara, Lluís; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel
Lázaro Guillén, Antoni; Pradell i Cara, Lluís; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel
Lázaro Guillén, Antoni; Girbau Sala, David; Pradell i Cara, Lluís
Girbau Sala, David; Lázaro Guillén, Antoni; Obiols Pérez, Alberto; Martínez, Ester; Pradell i Cara, Lluís; Villarino Villarino, Ramón
 

Coordination

 

Supporters