Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/671

Fet noise-parameter determination using a novel technique based on 50 noise measurements
Lázaro Guillén, Antoni; Pradell i Cara, Lluís; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions; Universitat Politècnica de Catalunya. RF&MW - Grup de Recerca de sistemes, dispositius i materials de RF i microones
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Radiocomunicació i exploració electromagnètica::Circuits de microones, radiofreqüència i ones mil·limètriques
Microwave measurements
calibration
electric noise measurement
equivalent circuits
microwave field effect transistors
microwave measurement
semiconductor device measurement
semiconductor device models
semiconductor device noise
Microones -- Dispositius
Artículo
IEEE
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Lázaro Guillén, Antoni; Pradell i Cara, Lluís; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel
Lázaro Guillén, Antoni; Pradell i Cara, Lluís; Beltrán, A.; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel
Lázaro Guillén, Antoni; Girbau Sala, David; Pradell i Cara, Lluís
Girbau Sala, David; Lázaro Guillén, Antoni; Obiols Pérez, Alberto; Martínez, Ester; Pradell i Cara, Lluís; Villarino Villarino, Ramón