To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/104851

Insights to memristive memory cell from a reliability perspective
Pouyan, Peyman; Amat Bertran, Esteve; Rubio Sola, Jose Antonio
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica
Memristors
Durability
Random access storage
Reconfigurable hardware
Reliability – RRAM
crossbar
Emerging device
Memristor
Process variability
reconfiguration
Ordinadors -- Memòries semiconductores
info:eu-repo/semantics/submittedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Pouyan, Peyman; Amat Bertran, Esteve; Rubio Sola, Jose Antonio
Pouyan, Peyman; Amat Bertran, Esteve; Barajas Ojeda, Enrique; Rubio Sola, Jose Antonio
 

Coordination

 

Supporters