Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2117/16582

Process variability-aware proactive reconfiguration techniques for mitigating aging effects in nano scale SRAM lifetime
Rubio Sola, Jose Antonio; Amat Bertran, Esteve; Pouyan, Peyman
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Circuits electrònics
Electronic circuit design -- Fiabilitat
Circuits electrònics -- Reliability
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
IEEE Press. Institute of Electrical and Electronics Engineers
         

Mostra el registre complet del document

Documents relacionats

Altres documents del mateix autor/a

Pouyan, Peyman; Amat Bertran, Esteve; Rubio Sola, Jose Antonio
Pouyan, Peyman; Amat Bertran, Esteve; Rubio Sola, Jose Antonio
Pouyan, Peyman; Amat Bertran, Esteve; Barajas Ojeda, Enrique; Rubio Sola, Jose Antonio