Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/25966

Título:	Process variability-aware proactive reconfiguration technique for mitigating aging effects in nanos scale SRAM lifetime
Autor/a:	Pouyan, Peyman; Amat Bertran, Esteve; Rubio Sola, Jose Antonio
Otros autores:	Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
Abstract:	Postprint (published version)
Materia(s):	-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica i telecomunicacions -Nanoelectronics. -Integrated circuits. -Nanotecnologia -Nanoelectrònica -Memòries digitals -Circuits integrats
Derechos:	Restricted access - publisher's policy
Tipo de documento:	Objeto de conferencia
Compartir:

Mostrar el registro completo del ítem