Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/25966

Process variability-aware proactive reconfiguration technique for mitigating aging effects in nanos scale SRAM lifetime
Pouyan, Peyman; Amat Bertran, Esteve; Rubio Sola, Jose Antonio
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica i telecomunicacions
Nanoelectronics.
Integrated circuits.
Nanotecnologia
Nanoelectrònica
Memòries digitals
Circuits integrats
Restricted access - publisher's policy
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Pouyan, Peyman; Amat Bertran, Esteve; Rubio Sola, Jose Antonio
Pouyan, Peyman; Amat Bertran, Esteve; Barajas Ojeda, Enrique; Rubio Sola, Jose Antonio
Pouyan, Peyman; Amat Bertran, Esteve; Moll Echeto, Francisco de Borja; Rubio Sola, Jose Antonio