To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/13127

Survey of robustness enhancement techniques for wireless systems-on-a-chip and study of temperature as observable for process variations
Onabajo, M.; Gómez Salinas, Dídac; Aldrete Vidrio, Eduardo; Altet Sanahujes, Josep; Mateo Peña, Diego; Silva-Martínez, José
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica i telecomunicacions::Circuits electrònics
Metal oxide semiconductors, Complementary
CMOS process variation
Radio transmitter -- receivers
RF thermal testing
RF built-in test
CMOS
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
Article
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Aldrete Vidrio, Eduardo; Mateo Peña, Diego; Altet Sanahujes, Josep; Amine Salhi, M.; Grauby, Stéphane; Dilhaire, Stefan; Onabajo, M.; Silva-Martínez, José
Aldrete Vidrio, Héctor; Onabajo, M.; Altet Sanahujes, Josep; Mateo Peña, Diego; Silva-Martínez, José
Gómez Salinas, Dídac; Mateo Peña, Diego; Altet Sanahujes, Josep
Altet Sanahujes, Josep; González Jiménez, José Luis; Gómez Salinas, Dídac; Perpiñà, Xavier; Grauby, Stephane; Dufis, Cédric Yvan; Vellvehi, Miquel; Mateo Peña, Diego; Dilhaire, Stefan; Jordà, Xavier
Altet Sanahujes, Josep; Mateo Peña, Diego; Gómez Salinas, Dídac; Perpiñà, Xavier; Jordà, Xavier
 

Coordination

 

Supporters