To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/7375

Non-invasive RF built-in testing using on-chip temperature sensors
Aldrete Vidrio, Héctor; Onabajo, M.; Altet Sanahujes, Josep; Mateo Peña, Diego; Silva-Martínez, José
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica
2012-05-10
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica i telecomunicacions::Circuits electrònics
Radio frequency integrated circuits
Circuits integrats -- Disseny
Open Access
Other
IEEE Computer Society Publications
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Onabajo, M.; Gómez Salinas, Dídac; Aldrete Vidrio, Eduardo; Altet Sanahujes, Josep; Mateo Peña, Diego; Silva-Martínez, José
Aldrete Vidrio, Eduardo; Mateo Peña, Diego; Altet Sanahujes, Josep; Amine Salhi, M.; Grauby, Stéphane; Dilhaire, Stefan; Onabajo, M.; Silva-Martínez, José
Altet Sanahujes, Josep; Mateo Peña, Diego; Aldrete Vidrio, Héctor
Altet Sanahujes, Josep; Aldrete Vidrio, Héctor; Reverter Cubarsí, Ferran; Gómez Salinas, Dídac; Gonzalez Jimenez, J. L.; Onabajo, Marvin; Silva Martinez, Jose; Martineau, B.; Perpiñà Gilabet, Xavier; Abdallah, Louay; Stratigopoulos, Haralampos-G.; Aragonès Cervera, Xavier; Jordà, Xavier; Vellvehi, Miquel; Dilhaire, Stefan; Mir, Salvador; Mateo Peña, Diego
Rubio Sola, Jose Antonio; Altet Sanahujes, Josep; Mateo Peña, Diego
 

Coordination

 

Supporters