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On evaluating temperature as observable for CMOS technology variability
Altet Sanahujes, Josep; Gómez Salinas, Dídac; Dufis, Cédric Yvan; González Jiménez, José Luis; Mateo Peña, Diego; Aragonès Cervera, Xavier; Moll Echeto, Francisco de Borja; Rubio Sola, Jose Antonio
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grupo de Circuitos y Sistemas Integrados de Altas Prestaciones
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació
Metal oxide semiconductors, Complementary
Signal theory (Telecommunication)
Electromotive force
Radio frequency microelectromechanical systems
Senyal, Teoria del (Telecomunicació)
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Altet Sanahujes, Josep; Mateo Peña, Diego; Gómez Salinas, Dídac; González Jiménez, José Luis; Martineau, B.; Siligaris, Alexandre; Aragonès Cervera, Xavier
Altet Sanahujes, Josep; González, José Luis; Gómez Salinas, Dídac; Perpiñà Gilabet, Xavier; Claeys, Wilfrid; Grauby, Stéphane; Dufis, Cédric Yvan; Vellvehi, Miquel; Mateo Peña, Diego; Reverter Cubarsí, Ferran; Dilhaire, Stefan; Jordà, Xavier
Altet Sanahujes, Josep; Aldrete Vidrio, Héctor; Reverter Cubarsí, Ferran; Gómez Salinas, Dídac; Gonzalez Jimenez, J. L.; Onabajo, Marvin; Silva Martinez, Jose; Martineau, B.; Perpiñà Gilabet, Xavier; Abdallah, Louay; Stratigopoulos, Haralampos-G.; Aragonès Cervera, Xavier; Jordà, Xavier; Vellvehi, Miquel; Dilhaire, Stefan; Mir, Salvador; Mateo Peña, Diego
Mateo Peña, Diego; Altet Sanahujes, Josep; Gómez Salinas, Dídac; Aragonès Cervera, Xavier