To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/25966

Title:	Process variability-aware proactive reconfiguration technique for mitigating aging effects in nanos scale SRAM lifetime
Author:	Pouyan, Peyman; Amat Bertran, Esteve; Rubio Sola, Jose Antonio
Other authors:	Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
Abstract:	Postprint (published version)
Subject(s):	-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica i telecomunicacions -Nanoelectronics. -Integrated circuits. -Nanotecnologia -Nanoelectrònica -Memòries digitals -Circuits integrats
Rights:	Restricted access - publisher's policy
Document type:	Conference Object
Share:

Show full item record