Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/86682

Characterization of MOSFET temperature sensors for on-chip dynamic thermal measurements
Reverter Cubarsí, Ferran; Perpinyà, Xavier; Leon, Javier; Vellvehi, Miquel; Jordà, Xavier; Altet Sanahujes, Josep
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. e-CAT - Circuits i Transductors Electrònics; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
-Detectors
-IC testing
-MOSFET
-temperature sensor
-thermal coupling
-thermal testing
-Detectors
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
Artículo - Versión publicada
Objeto de conferencia
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Perpinyà, Xavier; Reverter Cubarsí, Ferran; León, Javier; Barajas Ojeda, Enrique; Vellvehi, Miquel; Jordà, Xavier; Altet Sanahujes, Josep
Altet Sanahujes, Josep; González, José Luis; Gómez Salinas, Dídac; Perpiñà Gilabet, Xavier; Claeys, Wilfrid; Grauby, Stéphane; Dufis, Cédric Yvan; Vellvehi, Miquel; Mateo Peña, Diego; Reverter Cubarsí, Ferran; Dilhaire, Stefan; Jordà, Xavier
Altet Sanahujes, Josep; Aldrete Vidrio, Héctor; Reverter Cubarsí, Ferran; Gómez Salinas, Dídac; Gonzalez Jimenez, J. L.; Onabajo, Marvin; Silva Martinez, Jose; Martineau, B.; Perpiñà Gilabet, Xavier; Abdallah, Louay; Stratigopoulos, Haralampos-G.; Aragonès Cervera, Xavier; Jordà, Xavier; Vellvehi, Miquel; Dilhaire, Stefan; Mir, Salvador; Mateo Peña, Diego
Reverter Cubarsí, Ferran; Perpiñà Gilabet, Xavier; Barajas Ojeda, Enrique; León, Javier; Vellvehi, Miquel; Jordà, Xavier; Altet Sanahujes, Josep
Altet Sanahujes, Josep; Rubio Sola, Jose Antonio; Reverter Cubarsí, Ferran; Perpiñà Gilabet, Xavier; Aragonès Cervera, Xavier; Jordà, Xavier; Vellvehi, Miquel; Mateo Peña, Diego