Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/100287
Título: | MOSFET dynamic thermal sensor for IC testing applications |
---|---|
Autor/a: | Reverter Cubarsí, Ferran; Perpiñà Gilabet, Xavier; Barajas Ojeda, Enrique; León, Javier; Vellvehi, Miquel; Jordà, Xavier; Altet Sanahujes, Josep |
Otros autores: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. e-CAT - Circuits i Transductors Electrònics; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions |
Abstract: | |
Abstract: | |
Materia(s): | -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica -Metal oxide semiconductor field-effect transistors -IC testing -MOSFET -RF testing -Temperature sensor -Thermal coupling -Thermal testing -INTEGRATED-CIRCUITS -TEMPERATURE SENSORS -BIPOLAR-TRANSISTORS -DETECTOR -Transistors MOSFET |
Derechos: | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
Tipo de documento: | Artículo - Versión presentada Artículo |
Compartir: |