Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2117/27445

REEM: failure/non-failure region estimation method for SRAM yield analysis
Rana, Manish; Canal Corretger, Ramon
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Arquitectura de Computadors; Universitat Politècnica de Catalunya. ARCO - Microarquitectura i Compiladors
Àrees temàtiques de la UPC::Informàtica::Sistemes d'informació::Emmagatzematge i recuperació de la informació
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Circuits integrats
Memory management (Computer science)
Integrated circuits
Importance sampling
Markov processes
Static random access storage
10x reductions
Estimation methods
Importance sampling method
Markov chain Monte Carlo method
Monotonicity property
Parameter spaces
SPICE simulations
Yield analysis
Gestió de memòria (Informàtica)
Circuits integrats
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
         

Mostra el registre complet del document

Documents relacionats

Altres documents del mateix autor/a

Rana, Manish; Canal Corretger, Ramon; Amat Bertran, Esteve; Rubio Sola, Jose Antonio
Amat Bertran, Esteve; García Almudéver, Carmen; Aymerich Capdevila, Nivard; Canal Corretger, Ramon; Rubio Sola, Jose Antonio
Jing, Naifeng; Shen, Yao; Lu, Yao; Ganapathy, Shrikanth; Mao, Zhigang; Guo, Minyi; Canal Corretger, Ramon; Liang, Xiaoyao