Mueller matrix microscope with a dual continuous rotating compensator setup and digital demodulation

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RECERCAT Principal > Universitat de Barcelona > Física Aplicada > Articles publicats en revistes (Física Aplicada) > Visualizar documento

Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2445/54287

dc.contributor	Universitat de Barcelona
dc.contributor.author	Arteaga Barriel, Oriol
dc.contributor.author	Baldrís Calmet, Marta
dc.contributor.author	Antó Roca, Joan
dc.contributor.author	Canillas i Biosca, Adolf
dc.contributor.author	Pascual Miralles, Esther
dc.contributor.author	Bertrán Serra, Enric
dc.date	2014-05-21T08:30:51Z
dc.date	2014-05-21T08:30:51Z
dc.date	2014-04-01
dc.date	2014-05-21T08:30:51Z
dc.identifier.citation	1559-128X
dc.identifier.citation	639780
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/2445/54287
dc.format	10 p.
dc.format	application/pdf
dc.language.iso	eng
dc.publisher	Optical Society of America
dc.relation	Reproducció del document publicat a: http://dx.doi.org/10.1364/AO.53.002236
dc.relation	Applied Optics, 2014, vol. 53, num. 10, p. 2236-2245
dc.relation	http://dx.doi.org/10.1364/AO.53.002236
dc.rights	(c) Optical Society of America, 2014
dc.rights	info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.subject	El·lipsometria
dc.subject	Microscòpia
dc.subject	Ellipsometry
dc.subject	Microscopy
dc.title	Mueller matrix microscope with a dual continuous rotating compensator setup and digital demodulation
dc.type	info:eu-repo/semantics/article
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.description.abstract	In this paper we describe a new Mueller matrix (MM) microscope that generalizes and makes quantitative the polarized light microscopy technique. In this instrument all the elements of the MU are simultaneously determined from the analysis in the frequency domain of the time-dependent intensity of the light beam at every pixel of the camera. The variations in intensity are created by the two compensators continuously rotating at different angular frequencies. A typical measurement is completed in a little over one minute and it can be applied to any visible wavelength. Some examples are presented to demonstrate the capabilities of the instrument.

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