Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/20052
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica |
---|---|
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat |
dc.contributor.author | Carrasco, Juan A. |
dc.contributor.author | Suñé, Víctor |
dc.date | 2009-02 |
dc.identifier.citation | Carrasco, J.; Suñe, V. An ROBDD-based combinatorial method for the evaluation of yield of defect-tolerant systems-on-chip. "IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems", Febrer 2009, vol. 17, núm. 2, p. 207-220. |
dc.identifier.citation | 1063-8210 |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/20052 |
dc.language.iso | eng |
dc.rights | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.rights | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Matemàtiques i estadística::Estadística matemàtica |
dc.subject | Combinatorial analysis |
dc.subject | Anàlisi combinatòria |
dc.title | An ROBDD-based combinatorial method for the evaluation of yield of defect-tolerant systems-on-chip |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type | info:eu-repo/semantics/article |
dc.description.abstract |