To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/20052

An ROBDD-based combinatorial method for the evaluation of yield of defect-tolerant systems-on-chip
Carrasco, Juan A.; Suñé, Víctor
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades
Àrees temàtiques de la UPC::Matemàtiques i estadística::Estadística matemàtica
Combinatorial analysis
Anàlisi combinatòria
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
Article
         

Show full item record

 

Coordination

 

Supporters