Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/20054

A combinatorial method for the evaluation of yield of fault-tolerant systems-on-chip
Suñé, Víctor; Rodríguez Montañés, Rosa; Carrasco, Juan A.; Munteanu, D-P
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades
Àrees temàtiques de la UPC::Matemàtiques i estadística::Estadística matemàtica
Combinatorial analysis
Anàlisi combinatòria
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
         

Mostrar el registro completo del ítem