Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2445/24296

Use of information on the manufacture of samples for the optical characterization of multilayers through a global optimization
Sancho i Parramon, Jordi; Ferré Borrull, Josep; Bosch i Puig, Salvador; Ferrara, Maria Christina
Universitat de Barcelona
Òptica electrònica
Electron optics
(c) Optical Society of America, 2003
Artículo
Optical Society of America
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Wolf, T.; Gutmann, B.; Weber, H.; Ferré Borrull, Josep; Bosch i Puig, Salvador; Vallmitjana i Rico, Santiago
Ristau, Detlev; Günster, Stefan; Bosch i Puig, Salvador; Duparré, Angela; Masetti, Enrico; Ferré Borrull, Josep; Kiriakidis, George; Peiró Martínez, Francisca; Quesnel, Etienne; Tihhonravov, Alexander
Arteaga Barriel, Oriol; Sancho i Parramon, Jordi; Nichols, Shane; Maoz, Ben M.; Canillas i Biosca, Adolf; Bosch i Puig, Salvador; Markovich, Gil; Kahr, Bart
Barroso, F.; Bosch i Puig, Salvador; Tort Escribà, Núria; Arteaga Barriel, Oriol; Sancho i Parramon, Jordi; Jover, Eric; Bertran Serra, Enric; Canillas i Biosca, Adolf