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Procedure to characterize microroughness of optical thin films: application to ion-beam-sputtered vacuum-ultraviolet coatings
Ferré Borrul, Josep; Duparré, Angela; Quesnel, Etienne
Universitat de Barcelona
13-07-2012
Òptica electrònica
Electron optics
(c) Optical Society of America, 2001
Artículo
Optical Society of America
         

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