To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/13457
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics |
---|---|
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. SEPIC - Sistemes Electrònics de Potència i de Control |
dc.contributor.author | Santos Hernández, Sergio |
dc.contributor.author | Barcons Xixons, Víctor |
dc.contributor.author | Christenson, Hugo K. |
dc.contributor.author | Font Teixidó, Josep |
dc.contributor.author | Thomson, Neil H. |
dc.date | 2011 |
dc.identifier.citation | Santos, S. [et al.]. The intrinsic resolution limit in the atomic force microscope: implications for heights of nano-scale features. "PLoS ONE Journal Information", 2011, vol. 6, núm. 8, p. 1-7. |
dc.identifier.citation | 1932-6203 |
dc.identifier.citation | 10.1371/journal.pone.0023821 |
dc.identifier.citation | 21912608 |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/13457 |
dc.language.iso | eng |
dc.relation | http://www.plosone.org/article/info%3Adoi%2F10.1371%2Fjournal.pone.0023821 |
dc.rights | Attribution 3.0 Spain |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.rights | http://creativecommons.org/licenses/by/3.0/es/ |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Física |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica |
dc.subject | Nanotechnology |
dc.subject | Atomic force microscopy |
dc.subject | Microscòpia de força atòmica |
dc.subject | Nanotecnologia |
dc.title | The intrinsic resolution limit in the atomic force microscope: implications for heights of nano-scale features |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type | info:eu-repo/semantics/article |
dc.description.abstract |