Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/13457
Título: | The intrinsic resolution limit in the atomic force microscope: implications for heights of nano-scale features |
---|---|
Autor/a: | Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Christenson, Hugo K.; Font Teixidó, Josep; Thomson, Neil H. |
Otros autores: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics; Universitat Politècnica de Catalunya. SEPIC - Sistemes Electrònics de Potència i de Control |
Abstract: | |
Materia(s): | -Àrees temàtiques de la UPC::Física -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica -Nanotechnology -Atomic force microscopy -Microscòpia de força atòmica -Nanotecnologia |
Derechos: | Attribution 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by/3.0/es/ |
Tipo de documento: | Artículo - Versión publicada Artículo |
Compartir: |