To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/13457

The intrinsic resolution limit in the atomic force microscope: implications for heights of nano-scale features
Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Christenson, Hugo K.; Font Teixidó, Josep; Thomson, Neil H.
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics; Universitat Politècnica de Catalunya. SEPIC - Sistemes Electrònics de Potència i de Control
Àrees temàtiques de la UPC::Física
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
Nanotechnology
Atomic force microscopy
Microscòpia de força atòmica
Nanotecnologia
Attribution 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by/3.0/es/
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
Article
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Christenson, Hugo K.; Billingsley, Daniel J.; Bonass, William A.; Font Teixidó, Josep; Thomson, Neil H.
Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Verdaguer, Albert; Font Teixidó, Josep; Thomson, Neil H.; Chiesa, Mateo
Santos Hernández, Sergio; Phillips, M.A.; Verdaguer, Albert; Font Teixidó, Josep; Chiesa, Matteo; Gadelrab,, K.; Stefancich, M.; Armstrong, P.; Li, G.; Souier, T.; Thomson, Neil H.; Barcons Xixons, Víctor
Font Teixidó, Josep; Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Thomson, Neil H.; Verdaguer, Albert; Chiesa, Matteo
Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Font Teixidó, Josep; Verdaguer Prats, Albert
 

Coordination

 

Supporters