Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/11989
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica |
---|---|
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics |
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat |
dc.contributor.author | Rodríguez Montañés, Rosa |
dc.contributor.author | Arumi Delgado, Daniel |
dc.contributor.author | Manich Bou, Salvador |
dc.contributor.author | Figueras Pàmies, Joan |
dc.contributor.author | Di Carlo, Stefano |
dc.contributor.author | Prinetto, Paolo |
dc.contributor.author | Scionti, Alberto |
dc.date | 2010 |
dc.identifier.citation | Rodríguez, R. [et al.]. Defective Behaviour of an 8T SRAM Cell with Open Defects. A: International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle. "Second International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle". Niça: 2010, p. 81-86. |
dc.identifier.citation | 978-1-4244-7784-5 |
dc.identifier.citation | 10.1109/VALID.2010.19 |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/11989 |
dc.language.iso | eng |
dc.relation | http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=5617198 |
dc.rights | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.rights | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica |
dc.subject | Electronic engineering |
dc.subject | Nanotecnologia |
dc.subject | Enginyeria electrònica -- Congressos |
dc.title | Defective Behaviour of an 8T SRAM Cell with Open Defects |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject |
dc.description.abstract |