Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/11989

Defective Behaviour of an 8T SRAM Cell with Open Defects
Rodríguez Montañés, Rosa; Arumi Delgado, Daniel; Manich Bou, Salvador; Figueras Pàmies, Joan; Di Carlo, Stefano; Prinetto, Paolo; Scionti, Alberto
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics; Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades
Peer Reviewed
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
Electronic engineering
Nanotecnologia
Enginyeria electrònica -- Congressos
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Di Carlo, Stefano; Indaco, Marco; Prinetto, Paolo; Vatajelu, Elena Ioana; Rodríguez Montañés, Rosa; Figueras Pàmies, Joan
Vatajelu, Elena Ioana; Rodríguez Montañés, Rosa; Indaco, Marco; Prinetto, Paolo; Figueras Pàmies, Joan
Arumi Delgado, Daniel; Manich Bou, Salvador; Rodríguez Montañés, Rosa
Arumi Delgado, Daniel; Rodríguez Montañés, Rosa; Figueras Pàmies, Joan
Rodríguez Montañés, Rosa; Arumi Delgado, Daniel; Figueras Pàmies, Joan