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Four different approaches for the measurement of IC surface temperature: Application to thermal testing
Saulnier, J.B; Altet Sanahujes, Josep; Dilhaire, Stefan; Volz, S.; Rampnoux, J.M.; Rubio Sola, Jose Antonio; Grauby, S.; Patino, L.; Claeys, W.
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grupo de Circuitos y Sistemas Integrados de Altas Prestaciones
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
Scanning thermal microscopy
Laser reflectometry
Laser interferometry
Built-in temperature sensors
Integrated circuits
Electronic engineering
Circuits integrats
Enginyeria electrònica
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
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