To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/991

Mechanisms for conduction via low-frequency noise measurements of High-Tc Thin-film microbridges
Nguyen, T. D.; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel; Davidson, B. A.; Redwing, R. D.; Hohenwarter, G. K. G.; Nordman, J. E.; Beyer, J. B.
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions; Universitat Politècnica de Catalunya. RF&MW - Grup de Recerca de sistemes, dispositius i materials de RF i microones
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Radiocomunicació i exploració electromagnètica::Circuits de microones, radiofreqüència i ones mil·limètriques
High temperature superconductors
Superconductivity
1/f noise
barium compounds
flux flow
flux pinning
high-temperature superconductors
superconducting device noise
superconducting device testing
superconducting microbridges
superconducting thin films
yttrium compounds
Superconductors a altes temperatures
Superconductivitat
Article
IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Davidson, B. A.; Redwing, R. D.; Nguyen, T. D.; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel; Raissi, F.; Lee, J. V.; Bruke, J. P.; Hohenwarter, G. K. G.; Nordman, J. E.; Beyer, J. B.
O'Callaghan Castellà, Juan Manuel; Martens, J. S.; Thompson, J. H.; Beyer, J. B.; Nordman, J. E.
O'Callaghan Castellà, Juan Manuel; Beyer, J. B.
Lázaro Guillén, Antoni; Pradell i Cara, Lluís; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel; Pérez Pueyo, Rosanna; Soneira Ferrando, M. José
 

Coordination

 

Supporters