Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/14433

Impact of positive bias temperature instability (PBTI)
Aymerich Capdevila, Nivard; Ganapathy, Shrikanth; Rubio Sola, Jose Antonio; Canal Corretger, Ramon; González Colás, Antonio María
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Arquitectura de Computadors; Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions; Universitat Politècnica de Catalunya. ARCO - Microarquitectura i Compiladors
Àrees temàtiques de la UPC::Informàtica::Hardware
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Circuits integrats
Memory management (Computer science)
Device degradation
Memòria -- Gestió -- Informàtica
Components electrònics -- Proves
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Ganapathy, Shrikanth; Canal Corretger, Ramon; González Colás, Antonio María; Rubio Sola, Jose Antonio
Ganapathy, Shrikanth; Canal Corretger, Ramon; González Colás, Antonio María; Rubio Sola, Jose Antonio
Ganapathy, Shrikanth; Canal Corretger, Ramon; González Colás, Antonio María; Rubio Sola, Jose Antonio
Ganapathy, Shrikanth; Canal Corretger, Ramon; González Colás, Antonio María; Rubio Sola, Jose Antonio
Ganapathy, Shrikanth; Canal Corretger, Ramon; González Colás, Antonio María; Rubio Sola, Jose Antonio