Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2117/27315
Títol: | Advanced failure detection techniques in deep submicron CMOS integrated circuits |
---|---|
Autor/a: | Rubio Sola, Jose Antonio; Altet Sanahujes, Josep; Mateo Peña, Diego |
Altres autors: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions |
Abstract: | |
Abstract: | |
Matèries: | -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Circuits integrats -Microelectronics -Integrated circuits -Microelectrònica -Circuits integrats |
Drets: | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
Tipus de document: | Article - Versió publicada Objecte de conferència |
Publicat per: | Pergamon Press |
Compartir: |