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Spectroscopic ellipsometry study of Cu2ZnSnS4 bulk poly-crystals
Levcenko, Sergiu; Hajdeu Chicarosh, Elena; Garcia Llamas, Elena; Caballero, Raquel; Serna, Rosalía; Bodnar, Ivan V.; Victorov, Ivan A.; Guc, Maxim; Merino, José Manuel; Pérez Rodríguez, Alejandro; Arushanov, Ernest; León, Máximo
-El·lipsometria
-Dispositius optoelectrònics
-Propietats òptiques
-Ellipsometry
-Optoelectronic devices
-Optical properties
(c) American Institute of Physics , 2018
Artículo
Artículo - Versión publicada
American Institute of Physics
         

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Guc, Maxim; Levcenko, Sergiu; Bodnar, Ivan V.; Izquierdo Roca, Victor; Fontané Sánchez, Xavier; Volkova, Larisa V.; Arushanov, Ernest; Pérez Rodríguez, Alejandro
Guc, Maxim; Levcenko, Sergiu; Bodnar, Ivan V.; Izquierdo-Roca, Victor; Fontane, Xavier; Volkova, Larisa V.; Arushanov, Ernest; Perez-Rodriguez, Alejandro
León, M.; Levcenko, S.; Serna, R.; Bodnar, I.V.; Nateprov, A.; Guc, M.; Gurieva, G.; Lopez, N.; Merino, J.M.; Caballero, R.; Schorr, S.; Pérez Rodríguez, Alejandro; Arushanov, Ernest
Guc, Maxim; Hariskos, Dimitrios; Calvo Barrio, Lorenzo; Jackson, Philip; Oliva, Florian; Pistor, Paul; Pérez Rodríguez, Alejandro; Izquierdo Roca, Victor