Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2117/100599
Títol: | Entropy characterisation of overstressed capacitors for lifetime prediction |
---|---|
Autor/a: | Cuadras Tomàs, Àngel; Romero, Ramón; Ovejas Benedicto, Victòria Júlia |
Altres autors: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. GRUP ISI - Grup d'Instrumentació, Sensors i Interfícies |
Abstract: | |
Abstract: | |
Matèries: | -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació -Electric networks -Entropy -Capacitor -Joule effect -Reliability -Damage -Wear out -ESR -Ageing -Components electrònics -Energia elèctrica -Xarxes elèctriques |
Drets: | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
Tipus de document: | Article - Versió presentada Article |
Compartir: |