Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2117/86549

Irreversible entropy model for damage diagnosis in resistors
Cuadras Tomàs, Àngel; Crisóstomo, Javier; Ovejas Benedicto, Victòria Júlia; Quílez Figuerola, Marcos
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. GRUP ISI - Grup d'Instrumentació, Sensors i Interfícies
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
Electric resistors
entropy
damage
aging
degradation
resistor
Resistors
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
info:eu-repo/semantics/submittedVersion
Article
American Institute of Physics (AIP)
         

Mostra el registre complet del document

Documents relacionats

Altres documents del mateix autor/a

Cuadras Tomàs, Àngel; Ovejas Benedicto, Victòria Júlia; Quílez Figuerola, Marcos
Cuadras Tomàs, Àngel; Ovejas Benedicto, Victòria Júlia
Ovejas Benedicto, Victòria Júlia; Cuadras Tomàs, Àngel; Morante, Joan Ramón
Cuadras Tomàs, Àngel; Ovejas Benedicto, Victòria Júlia
Cuadras Tomàs, Àngel; Ovejas Benedicto, Victòria Júlia