RECERCAT Principal
>
Universitat Politècnica de Catalunya
>
Documents de recerca
>
Visualizar documento
Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/84803
| dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions |
|---|---|
| dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. RF&MW - Grup de Recerca de sistemes, dispositius i materials de RF i microones |
| dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. RSLAB - Grup de Recerca en Teledetecció |
| dc.contributor.author | Pradell i Cara, Lluís |
| dc.contributor.author | Sabater, C. |
| dc.contributor.author | Artal, Eduardo |
| dc.contributor.author | Comerón Tejero, Adolfo |
| dc.contributor.author | Bará Temes, Francisco Javier |
| dc.contributor.author | Corbella Sanahuja, Ignasi |
| dc.contributor.author | Fortuny, J. |
| dc.date | 1990 |
| dc.identifier.citation | Pradell, L., Sabater, C., Artal, E., Comeron, A., Bara, F., Corbella, I., Fortuny, J. TRL calibration applied to the measurement of chip transistor s-parameters up to 40 ghz. A: European Microwave Conference. "EuMc 1990 - 20th European Microwave Conference: Monday 10th to Thursday 13th September 1990: Duna Inter-Continental Hotel, Budapest, Hungary". Budapest: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 1990, p. 214-219. |
| dc.identifier.citation | 0946821070 |
| dc.identifier.citation | 10.1109/EUMA.1990.336046 |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/84803 |
| dc.language.iso | eng |
| dc.publisher | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| dc.relation | http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=4136003 |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
| dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació |
| dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Radiocomunicació i exploració electromagnètica |
| dc.subject | Calibration |
| dc.subject | Transistors |
| dc.subject | Calibration |
| dc.subject | Coaxial components |
| dc.subject | Frequency measurement |
| dc.subject | Calibratge |
| dc.subject | Transistors |
| dc.title | TRL calibration applied to the measurement of chip transistor s-parameters up to 40 ghz |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject |
| dc.description.abstract |
Documentos relacionados
Otros documentos del mismo autor/a
Pradell i Cara, Lluís; Sabater, C.; Artal, E.; Comerón Tejero, Adolfo; Bará Temes, Francisco Javier; Corbella Sanahuja, Ignasi; Fortuny, J.
Pradell i Cara, Lluís; Artal, Eduardo; Comerón Tejero, Adolfo; Corbella Sanahuja, Ignasi; Sabater, C.
Pradell i Cara, Lluís; Corbella Sanahuja, Ignasi; Comerón Tejero, Adolfo; Bará Temes, Francisco Javier; Artal, E.; Torres Torres, Francisco; Purroy, Francesc; Barlabe Dalmau, Antoni; Sales, V.
Comerón Tejero, Adolfo; Bara, Javier; Elias Fusté, Antoni; Corbella Sanahuja, Ignasi; Artal, Eduardo
Artal, Eduardo; Comerón Tejero, Adolfo; Corbella Sanahuja, Ignasi