To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/84803

Title:	TRL calibration applied to the measurement of chip transistor s-parameters up to 40 ghz
Author:	Pradell i Cara, Lluís; Sabater, C.; Artal, Eduardo; Comerón Tejero, Adolfo; Bará Temes, Francisco Javier; Corbella Sanahuja, Ignasi; Fortuny, J.
Other authors:	Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions; Universitat Politècnica de Catalunya. RF&MW - Grup de Recerca de sistemes, dispositius i materials de RF i microones; Universitat Politècnica de Catalunya. RSLAB - Grup de Recerca en Teledetecció
Abstract:	Peer Reviewed
Subject(s):	-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Radiocomunicació i exploració electromagnètica -Calibration -Transistors -Calibration -Coaxial components -Frequency measurement -Calibratge -Transistors
Rights:
Document type:	Article - Published version Conference Object
Published by:	Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Share:

Show full item record