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Reliability: fallacy or reality?
González Colás, Antonio María; Mahlke, Scott; Mukherjee, Shubu; Sendag, Resit; Chiou, Derek; Yi, Joshua J.
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Arquitectura de Computadors; Universitat Politècnica de Catalunya. ARCO - Microarquitectura i Compiladors
Àrees temàtiques de la UPC::Informàtica::Arquitectura de computadors
Integrated circuits -- Reliability
Circuits integrats -- Fiabilitat
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
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