Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/20632

Analog circuit test based on a digital signature
Gómez Pau, Álvaro; Sanahuja Moliner, Ricard; Balado Suárez, Luz María; Figueras Pàmies, Joan
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics; Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Circuits electrònics
Àrees temàtiques de la UPC::Informàtica::Seguretat informàtica::Criptografia
Monitoring
Digital signatures
Linear integrated circuits
Monitoratge
Signatures electròniques
Circuits integrats lineals
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Gómez Pau, Álvaro; Sanahuja Moliner, Ricard; Balado Suárez, Luz María; Figueras Pàmies, Joan
Gómez Pau, Álvaro; Sanahuja Moliner, Ricard; Balado Suárez, Luz María; Figueras Pàmies, Joan
Gómez Pau, Álvaro; Sanahuja Moliner, Ricard; Balado Suárez, Luz María; Figueras Pàmies, Joan
Sanahuja Moliner, Ricard; Gómez Pau, Álvaro; Balado Suárez, Luz María; Figueras Pàmies, Joan
Gómez Pau, Álvaro; Balado Suárez, Luz María; Figueras Pàmies, Joan