To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/17947
Title: | Built-In test of MEMS capacitive accelerometers for field failures and aging degradation. |
---|---|
Author: | Gómez Pau, Álvaro; Sanahuja Moliner, Ricard; Balado Suárez, Luz María; Figueras Pàmies, Joan |
Other authors: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics; Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat |
Subject(s): | -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica -Accelerometers. -Acceleròmetres |
Rights: | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
Document type: | Article - Published version Conference Object |
Share: |