To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/17947

Built-In test of MEMS capacitive accelerometers for field failures and aging degradation.
Gómez Pau, Álvaro; Sanahuja Moliner, Ricard; Balado Suárez, Luz María; Figueras Pàmies, Joan
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics; Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
Accelerometers.
Acceleròmetres
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Gómez Pau, Álvaro; Sanahuja Moliner, Ricard; Balado Suárez, Luz María; Figueras Pàmies, Joan
Gómez Pau, Álvaro; Sanahuja Moliner, Ricard; Balado Suárez, Luz María; Figueras Pàmies, Joan
Gómez Pau, Álvaro; Sanahuja Moliner, Ricard; Balado Suárez, Luz María; Figueras Pàmies, Joan
Sanahuja Moliner, Ricard; Gómez Pau, Álvaro; Balado Suárez, Luz María; Figueras Pàmies, Joan
Gómez Pau, Álvaro; Balado Suárez, Luz María; Figueras Pàmies, Joan
 

Coordination

 

Supporters