Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/18194
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions |
---|---|
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. FOTONICA - Grup de Recerca de Fotònica |
dc.contributor.author | Aviles Espinosa, Rodrigo |
dc.contributor.author | Andilla, Jordi |
dc.contributor.author | Porcar-Guezenec, Rafael |
dc.contributor.author | Levecq, Xavier |
dc.contributor.author | Artigas García, David |
dc.contributor.author | Loza Álvarez, Pablo |
dc.date | 2012 |
dc.identifier.citation | Aviles, R. [et al.]. Depth aberrations characterization in linear and nonlinear microscopy schemes using a Shack-Hartmann wavefront sensor. A: Three-Dimensional and Multidimensional Microscopy: Image Acquisition and Processing. "Progress in Biomedical Optics and Imaging - Proceedings of SPIE". 2012, p. 82271D-1-82271D-11. |
dc.identifier.citation | 978-081948870-1 |
dc.identifier.citation | 10.1117/12.907476 |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/18194 |
dc.language.iso | eng |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Telecomunicació òptica::Fotònica |
dc.subject | Nonlinear optics. |
dc.subject | Microscopy. |
dc.subject | òptica |
dc.subject | Microscòpia |
dc.title | Depth aberrations characterization in linear and nonlinear microscopy schemes using a Shack-Hartmann wavefront sensor |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject |
dc.description.abstract | |
dc.description.abstract |