To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/18194

Depth aberrations characterization in linear and nonlinear microscopy schemes using a Shack-Hartmann wavefront sensor
Aviles Espinosa, Rodrigo; Andilla, Jordi; Porcar-Guezenec, Rafael; Levecq, Xavier; Artigas García, David; Loza Álvarez, Pablo
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions; Universitat Politècnica de Catalunya. FOTONICA - Fotònica
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Telecomunicació òptica::Fotònica
Nonlinear optics.
Microscopy.
òptica
Microscòpia
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Aviles Espinosa, Rodrigo; Andilla, Jordi; Porcar-Guezenec, Rafael; Olarte, Omar E.; Nieto, Marta; Levecq, Xavier; Artigas García, David; Loza Álvarez, Pablo
Aviles Espinosa, Rodrigo; Santos, Susana I.C.O.; Brodschelm, Andreas; Kaenders, Wilhelm G.; Alonso Ortega, Cesar; Artigas García, David; Loza Álvarez, Pablo
Loza Álvarez, Pablo; Artigas García, David; Santos, Susana I.C.O.; Aviles Espinosa, Rodrigo; Filippidis, George; Hamilton, Craig; Malcolm, Graeme; Weingarten, Kurt J.; Südmeyer, Thomas; Barbarin, Yohan; Keller, Ursula
OLARTE, Omar Eduardo; Andilla, Jordi; Artigas García, David; Loza Álvarez, Pablo
Olarte, Omar; Andilla, Jordi; Artigas García, David; Loza-Alvarez, Pablo
 

Coordination

 

Supporters