Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2117/17831

Application of matched digital filters to noisy fringe-patterns from complex wavefronts;
Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV
Caum Aregay, Jesús; Arasa Marti, Jose; Royo Royo, Santiago; Ares Rodríguez, Miguel
Osten, Wolfgang; Gorecki, Christophe; Novak, Erik L.; Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Òptica i Optometria; Universitat Politècnica de Catalunya. GREO - Grup de Recerca en Enginyeria Òptica
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
Metrology
Digital filters
Diffraction patterns
Metrologia
Filtres digitals
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
Article
Proc.SPIE Press
         

Mostra el registre complet del document

Documents relacionats

Altres documents del mateix autor/a

Royo Royo, Santiago; Arasa Marti, Jose; Ares Rodríguez, Miguel; Atashkhooei, Reza; Azcona Guerrero, Francisco Javier; Caum Aregay, Jesús; Riu Gras, Jordi; Sergievskaya, Irina; Suc, Vicent
Caum Aregay, Jesús; Arasa Marti, Jose; Royo Royo, Santiago; Ares Rodríguez, Miguel
Ares Rodríguez, Miguel; Royo Royo, Santiago; Caum Aregay, Jesús; Pizarro Bondia, Carlos
Ares Rodríguez, Miguel; Royo Royo, Santiago; Vilaseca Ricart, Meritxell; Herrera Ramírez, Jorge Alexis; Delpueyo Español, Xana; Sanàbria Ortega, Ferran
Royo Royo, Santiago; Ares Rodríguez, Miguel; Riu Gras, Jordi; Panyella, David