To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/13934

Ring oscillator switching noise under NBTI wearout
Fernández García, Raúl; Gil Galí, Ignacio; Ruiz, José María; Morata Cariñena, Marta
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. TIEG - Grup d'Electrònica Industrial Terrassa
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica i telecomunicacions::Electrònica de potència
Electromagnetic interference
Metal oxide semiconductor field-effect transistors
Switching circuits
Metall-òxid-semiconductors
Electromagnetisme
info:eu-repo/semantics/submittedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Fernández García, Raúl; Ruiz, José María; Gil Galí, Ignacio; Morata Cariñena, Marta
Morata Cariñena, Marta; Gil Galí, Ignacio; Fernández García, Raúl
Gil Galí, Ignacio; Morata Cariñena, Marta; Fernández García, Raúl; Rottenberg, Xavier; De Raedt, Walter
Fernández García, Raúl; Berbel Artal, Néstor; Gil Galí, Ignacio; Morata Cariñena, Marta
Gil Galí, Ignacio; Morata Cariñena, Marta; Fernández García, Raúl; Rottenberg, Xavier; De Raedt, Walter
 

Coordination

 

Supporters