Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/12283

Electromagnetic compatibility of CMOS circuits along the lifetime
Fernández García, Raúl; Ruiz, José María; Gil Galí, Ignacio; Morata Cariñena, Marta
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. TIEG - Grup d'Electrònica Industrial Terrassa
Àrees temàtiques de la UPC::Física::Electromagnetisme
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Electrònica de potència
Electromagnetism
Metal oxide semiconductor field-effect transistors
Electromagnetisme
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Fernández García, Raúl; Gil Galí, Ignacio; Ruiz, José María; Morata Cariñena, Marta
Morata Cariñena, Marta; Gil Galí, Ignacio; Fernández García, Raúl
Gil Galí, Ignacio; Morata Cariñena, Marta; Fernández García, Raúl; Rottenberg, Xavier; De Raedt, Walter
Morata Cariñena, Marta; Gil Galí, Ignacio; Fernández García, Raúl
Fernández García, Raúl; Berbel Artal, Néstor; Gil Galí, Ignacio; Morata Cariñena, Marta