Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/10168

Factors influencing the successful validation of transient phenomenon modelling
Jauregui Tellería, Ricardo; Silva Martínez, Fernando; Orlandi, Antonio; Sasse, Hugh; Duffy, Alistair
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. IEB - Instrumentació Electrònica i Biomèdica
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Electrònica de potència
Computational electromagnetics simulation
Electromagnetic interference
IEEE standards1597.1
Frequency-domain analysis
Electromagnetisme -- Simulació per ordinador
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
IEEE Press. Institute of Electrical and Electronics Engineers
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Jauregui Telleria, Ricardo Ignacio; Zhang, Gang; Rojas Mora, Julio; Ventosa Llopart, Josep Oriol; Silva Martínez, Fernando; Duffy, Alistair P.; Sasse, Hugh
Jauregui Tellería, Ricardo; Ventosa Llopart, Oriol; Silva Martínez, Fernando; Kunze, Marco
Jauregui Tellería, Ricardo; Riu Costa, Pere Joan; Silva Martínez, Fernando
Jauregui Tellería, Ricardo; Pous Solà, Marc; Fernández Chimeno, Mireya; Silva Martínez, Fernando
Jauregui Tellería, Ricardo; Silva Martínez, Fernando