Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2445/22099

Impedance field and noise of submicrometer n+ nn+ diodes: analytical approach
Bulashenko, Oleg; Gaubert, P.; Varani, L.; Vaissiere, J. C.; Nougier, J. P.
Universitat de Barcelona
Díodes
Soroll
Camps elèctrics
Semiconductors
Mètode de Montecarlo
Electrònica de l'estat sòlid
Microelectrònica
Diodes
Noise
Electric fields
Semiconductors
Monte Carlo method
Solid state electronics
Microelectronics
(c) American Institute of Physics, 2000
Article
American Institute of Physics
         

Mostra el registre complet del document

Documents relacionats

Altres documents del mateix autor/a

González, T.; González, C.; Mateos, Javier; Pardo, D.; Reggiani, L. (Lino), 1941-; Bulashenko, Oleg; Rubí Capaceti, José Miguel
Sukhorukov, Eugene V.; Bulashenko, Oleg
Gomila Lluch, Gabriel; Bulashenko, Oleg; Rubí Capaceti, José Miguel; Kochelap, V. A.(Viacheslav Aleksandrovich)
Gomila Lluch, Gabriel; Bulashenko, Oleg; Rubí Capaceti, José Miguel
Bulashenko, Oleg; Mateos, Javier; Pardo, D.; González, T.; Reggiani, L. (Lino), 1941-; Rubí Capaceti, José Miguel