Condiciones críticas de medición en las mediciones cuantitativas de reflectancia. Errores sistemticos

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dc.contributor	Universitat de Barcelona
dc.contributor.author	Vendrell Saz, Màrius
dc.contributor.author	López Soler, Ángel
dc.date	2011-05-25T10:49:11Z
dc.date	2011-05-25T10:49:11Z
dc.date	1979
dc.identifier.citation	0567-7505
dc.identifier.citation	65710
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/2445/18189
dc.description.abstract	Se establecen las condiciones criticas que necesariamente tienen que cumplirse cuando se pretende calcular las constantes Opticas (n v k) de un material opaco, mediante las mediciones de reflectancia en dos medios de distinto ndice de refraccion.
dc.format	4 p.
dc.format	application/pdf
dc.language.iso	spa
dc.publisher	Universitat de Barcelona (UB). Institut de Cincias de la Terra Jaume Almera (ICTJA)
dc.relation	Reproducció del document publicat a http://www.raco.cat/index.php/ActaGeologica/article/view/74980
dc.relation	Acta Geologica Hispanica, 1979, vol. 14, p. 71-74
dc.rights	(c) Vendrell-Saz, et al., 1979
dc.rights	info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.subject	Difracció
dc.subject	Refracció
dc.subject	Diffraction
dc.subject	Refraction
dc.title	Condiciones críticas de medición en las mediciones cuantitativas de reflectancia. Errores sistemticos
dc.type	info:eu-repo/semantics/article
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion