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Condiciones críticas de medición en las mediciones cuantitativas de reflectancia. Errores sistemticos
Vendrell Saz, Màrius; López Soler, Ángel
Universitat de Barcelona
Se establecen las condiciones criticas que necesariamente tienen que cumplirse cuando se pretende calcular las constantes Opticas (n v k) de un material opaco, mediante las mediciones de reflectancia en dos medios de distinto ndice de refraccion.
26-07-2011
Difracció
Refracció
Diffraction
Refraction
(c) Vendrell-Saz, et al., 1979
Artículo
Universitat de Barcelona (UB). Institut de Cincias de la Terra Jaume Almera (ICTJA)
         

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