dc.contributor.author
Borrell Hernández, Jordi
dc.date.issued
2016-04-01T15:37:31Z
dc.date.issued
2016-04-01T15:37:31Z
dc.date.issued
2013-05-08
dc.identifier
https://hdl.handle.net/2445/96862
dc.format
application/pdf
dc.publisher
Universitat de Barcelona. Facultat de Farmàcia
dc.relation
Seminaris Tecnològics de Facultat de Farmàcia 2013 (Seminari 2)
dc.rights
cc-by-nc-nd (c) Borrell, 2013
dc.rights
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
dc.rights
info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.source
Seminaris Tecnològics (Facultat de Farmàcia i Ciències de l'Alimentació)
dc.subject
Microscòpia de força atòmica
dc.subject
Atomic force microscopy
dc.title
Microscòpia de força atòmica i les seves aplicacions (Seminaris Tecnològics 2013)
dc.type
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
