DC temperature measurements to characterize the central frequency and 3 dB bandwidth in mmW power amplifiers

Inici | Què és? | Contacte

English | Castellano

Consultar RECERCAT

Per comunitats i
col·leccions Per data Per autors Per títols Per matèries

Consultar col·lecció

Per data Per autors Per títols Per matèries

Estadístiques

Del document Tot RECERCAT

El meu RECERCAT

Entrar Alertes per correu-e

Directori d’altres repositoris

Pàgina inicial del RECERCAT > Universitat Politècnica de Catalunya > Documents de recerca > Visualitza document

Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2117/79249

Títol:	DC temperature measurements to characterize the central frequency and 3 dB bandwidth in mmW power amplifiers
Autor/a:	Aragonès Cervera, Xavier; Mateo Peña, Diego; González Jiménez, José Luis; Vidal López, Eva María; Gómez Salinas, Didac; Martineau, B; Altet Sanahujes, Josep
Altres autors:	Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions; Universitat Politècnica de Catalunya. EPIC - Energy Processing and Integrated Circuits
Abstract:	This letter shows how a temperature sensor and a simple DC voltage multimeter can be used as instruments to determine the central frequency and 3 dB bandwidth of a 60 GHz linear power amplifier (PA). Compared to previous works, the DC temperature monitoring now proposed requires a much simpler and convenient measurement set-up. In this example, the temperature sensor is embedded in the same silicon die as the PA. Being placed in empty layout spaces next to it, it is proposed as a built-in test circuit.
Abstract:	Peer Reviewed
Matèries:	-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Circuits integrats -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Instrumentació i mesura -Integrated circuits -Temperature measurements -Built-in test -CMOS millimeter wave integrated circuits -Design for testability -Temperature measurement -Circuits integrats -Termometria
Drets:	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
Tipus de document:	Article - Versió presentada Article
Compartir:

Mostra el registre complet del document

Documents relacionats

Altres documents del mateix autor/a

Electro-thermal coupling analysis methodology for RF circuits

Gómez Salinas, Didac; Dufis, Cédric Yvan; Altet Sanahujes, Josep; Mateo Peña, Diego; González Jiménez, José Luis

On evaluating temperature as observable for CMOS technology variability

Altet Sanahujes, Josep; Gómez Salinas, Dídac; Dufis, Cédric Yvan; González Jiménez, José Luis; Mateo Peña, Diego; Aragonès Cervera, Xavier; Moll Echeto, Francisco de Borja; Rubio Sola, Jose Antonio

Temperature sensors to measure the central frequency and 3 dB bandwidth in mm W power amplifiers

Altet Sanahujes, Josep; Mateo Peña, Diego; Gómez Salinas, Dídac; González Jiménez, José Luis; Martineau, B.; Siligaris, Alexandre; Aragonès Cervera, Xavier

Phase noise degradation of LC-tank VCOs due to substrate noise and package coupling

Méndez, M A; Mateo Peña, Diego; Aragonès Cervera, Xavier; González Jiménez, José Luis

Inductor shielding strategies to protect mmW LC-VCOs from high frequency substrate noise

Molina García, Marc; Aragonès Cervera, Xavier; Mateo Peña, Diego; González Jiménez, José Luis

Accessibilitat | Avís legal | Política de Cookies | Documents d'ús intern

Coordinació

Patrocini