DC temperature measurements to characterize the central frequency and 3 dB bandwidth in mmW power amplifiers

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RECERCAT Principal > Universitat Politècnica de Catalunya > Documents de recerca > Visualizar documento

Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/79249

dc.contributor	Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica
dc.contributor	Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
dc.contributor	Universitat Politècnica de Catalunya. EPIC - Energy Processing and Integrated Circuits
dc.contributor.author	Aragonès Cervera, Xavier
dc.contributor.author	Mateo Peña, Diego
dc.contributor.author	González Jiménez, José Luis
dc.contributor.author	Vidal López, Eva María
dc.contributor.author	Gómez Salinas, Didac
dc.contributor.author	Martineau, B
dc.contributor.author	Altet Sanahujes, Josep
dc.date	2015-11
dc.identifier.citation	Aragones, X., Mateo, D., González, J.L., Vidal, E., Gómez, D., Martineau, B., Altet, J. DC temperature measurements to characterize the central frequency and 3 dB bandwidth in mmW power amplifiers. "IEEE microwave and wireless components letters", Novembre 2015, vol. 25, núm. 11, p. 745-747.
dc.identifier.citation	1531-1309
dc.identifier.citation	10.1109/LMWC.2015.2479848
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/2117/79249
dc.language.iso	eng
dc.relation	http://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDetails.jsp?arnumber=7293238&filter%3DAND%28p_IS_Number%3A7317830%29
dc.relation	info:eu-repo/grantAgreement/ES/1PE/TEC2013-45638-C3-2-R
dc.rights	info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
dc.subject	Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Circuits integrats
dc.subject	Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Instrumentació i mesura
dc.subject	Integrated circuits
dc.subject	Temperature measurements
dc.subject	Built-in test
dc.subject	CMOS millimeter wave integrated circuits
dc.subject	Design for testability
dc.subject	Temperature measurement
dc.subject	Circuits integrats
dc.subject	Termometria
dc.title	DC temperature measurements to characterize the central frequency and 3 dB bandwidth in mmW power amplifiers
dc.type	info:eu-repo/semantics/submittedVersion
dc.type	info:eu-repo/semantics/article
dc.description.abstract	This letter shows how a temperature sensor and a simple DC voltage multimeter can be used as instruments to determine the central frequency and 3 dB bandwidth of a 60 GHz linear power amplifier (PA). Compared to previous works, the DC temperature monitoring now proposed requires a much simpler and convenient measurement set-up. In this example, the temperature sensor is embedded in the same silicon die as the PA. Being placed in empty layout spaces next to it, it is proposed as a built-in test circuit.
dc.description.abstract	Peer Reviewed

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