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dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica |
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dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. MNT - Grup de Recerca en Micro i Nanotecnologies |
dc.contributor.author | Cardador, D. |
dc.contributor.author | Vega Bru, Didac |
dc.contributor.author | Rodríguez Martínez, Ángel |
dc.date | 2015 |
dc.identifier.citation | Cardador, D., Vega, D., Rodriguez, A. Variación de la frecuencia de trabajo en un cristal fotónico basado en silicio macroporoso al variar la longitud del defecto. A: Workshop en Microsistemas y Nanotecnología y Asamblea Anual de IBERNAM. "IBERNAM 2015- Encuentro Anual IberNAM: “Empresas de Base Tecnológica en Micro-Nanosistemas: experiencias y oportunidades de colaboración” Zaragoza, 10-11 Diciembre 2015 Salón de Actos. Edificio I+D+i. Campus Río Ebro. Universidad de Zaragoza.". Zaragoza: 2015, p. 1-2. |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/84495 |
dc.language.iso | spa |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.rights | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Telecomunicació òptica::Fotònica |
dc.subject | Photonics |
dc.subject | Cristal fotónico |
dc.subject | Silicio macroporoso |
dc.subject | Defecto |
dc.subject | Banda prohibida |
dc.subject | Fotònica |
dc.title | Variación de la frecuencia de trabajo en un cristal fotónico basado en silicio macroporoso al variar la longitud del defecto |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject |
dc.description.abstract | |
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