Title: | Assessment and improvement of the pattern recognition performance of memdiode-based cross-point arrays with randomly distributed stuck-at-faults |
---|---|
Author: | Aguirre, Fernando Leonel; Pazos, Sebastián M.; Palumbo, Félix; Morell Pérez, Antoni; Suñé, Jordi,; Miranda, Enrique |
Abstract: | |
Subject(s): | -Stuck-at fault -RRAM -Pattern recognition -Memristor -QMM -Neural network -Neuromorphics |
Rights: | open access
Aquest document està subjecte a una llicència d'ús Creative Commons. Es permet la reproducció total o parcial, la distribució, la comunicació pública de l'obra i la creació d'obres derivades, fins i tot amb finalitats comercials, sempre i quan es reconegui l'autoria de l'obra original. https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ |
Document type: | Article |
Published by: | |
Share: | |
Uri: | https://ddd.uab.cat/record/251897 |